题目
A.150mm
B.90mm
C.120mm
D.100mm
第2题
A.0.5-1MHz双晶直探头
B.1-5MHz双晶直探头
C.2.5MHz单晶直探头
D.5MHz单晶直探头
第3题
A.要求一次波至少扫查到焊接接头根部
B.一般要求从对接焊接接头两侧进行检测
C.确因条件限制只能从焊接接头一侧检测时,应采用两种或两种以上不同k值探头进行检测
D.除进行纵向缺陷检测外,还应进行横向缺陷检测
第10题
A.对比试块与被检件或材料化学成份相似
B.试块的外形尺寸能代表被检工件的特征
C.对比试块的厚度与被检工件厚度相对应,涉及到不同工件厚度对接接头检测,试块厚度选择应由其较大工件厚度确定
D.对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准
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