更多“对样品进行表面形貌分析时应使用（)。A、X射线衍射（XRD)B、透射电镜（TEM)C、扫描电镜（SEM)”相关的问题
第1题
使用扫描电镜对样品表面进行观察时，对表面形貌敏感的信号是
A.背散射电子
B.吸收电子
C.二次电子
D.俄歇电子
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第2题
透射电镜具有大的景深，所以它可以用来进行样品的表面形貌观察。
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第3题
2、二次电子：（） （A）对样品表面形貌敏感； （B）对样品成分敏感； （C) 对样品形状敏感；（D）对样品厚度敏感；
A.对样品表面形貌敏感
B.对样品成分敏感
C.对样品形状敏感
D.对样品厚度敏感
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第4题
关于原子力显微镜，下列说法正确的是（）
A.只能对导电样品的表面形貌进行测量
B.可观测样品内部的微观结构
C.可在大气、真空和液体环境下工作
D.能够提供样品表面的三维形貌
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第5题
在电镜成像所采用的物理信号中，二次电子信号对样品表面状态非常敏感，能够非常有效的显示样品表面的微观形貌。
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第6题
能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。（)
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第7题
使用能谱仪对样品表面进行元素分析时，7KV可以激发周期表中所有元素的X射线
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第8题
4. 背散射电子:能量高，来自样品表面（）nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多。用作形貌分析、成分分析以及结构分析。
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第9题
背散射电子的性质是（)
A.产生范围在表层100~1000nm内
B.产额随原子序数增加而增加
C.可用于样品的表面形貌分析
D.可用于样品的表面成分分析
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第10题
背散射电子的性质是
A.产生范围在表层100~1000 nm内
B.产额随原子序数增加而增加
C.可用于样品的表面形貌分析
D.可用于样品的表面成分分析
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