使用扫描电镜对样品表面进行观察时，对表面形貌敏感的信号是

A.背散射电子；

B.二次电子；

C.吸收电子；

D.透射电子。

A.俄歇电子

B.背散射电子

C.二次电子

D.特征X射线

A.二次电子、吸收电子

B.透射电子、背散射电子

C.Auger电子、二次电子

D.背散射电子

A.二次电子

B.背散射电子

C.连续X射线

D.特征X射线

A.二次电子

B.俄歇电子

C.背散射电子

D.特征X射线

A.TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。

B.SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。

C.TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。

D.EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。

A.二次电子

B.背散射电子

C.透射电子

D.吸收电子

A.二次电子

B.背散射电子

C.吸收电子

D.特征X射线

A.背散射电子

B.俄歇电子

C.特征X射线

D.荧光X射线