题目
设总体X服从指数分布,其概率密度为
其中θ>0未知,从总体中抽取一容量为n的样本X1,X2,…,Xn
(1)证明
(2)求θ的置信水平为1-α的单侧置信下限;
(3)某种元件的寿命(以小时计)服从上述指数分布,现从中抽得一容量n=16的样本,测得样本均值为5010(h),试求元件的平均寿命的置信水平为0.90的单侧置信下限
第1题
设总体X服从指数分布,其概率密度为
其中参数θ>0为未知.又设(X1,X2…,Xn)是来自X的样本,试判断和nZ=n[min(X1,X2,…,Xn)]作为θ的无偏估计量哪个更有效?
第2题
设总体X服从均值为θ的指数分布,其概率密度为。其中参数θ>0未知。又设X1, X2, ... Xn是来自该总体的样本,试证:又和n{min(X1, X2. ..Xn})都是θ的无偏估计量且又是相台的,并比较哪个更有效。
第3题
设某电子元件的寿命X服从指数分布,其概率密度为
其中λ>0为未知参数,(X1,X2,…,Xn)为来自该总体的样本,求元件在T0时刻仍能正常工作概率的最大似然估计.
第4题
设总体X服从指数分布,概率密度为
其中λ为未知参数,若取得样本观测值为x1,x2,…,xn,求参数λ的极大似然估计值.
第5题
设总体X服从指数分布,其概率密度为
θ>0未知.从总体中抽取一容量为n的样本X1,X2,…,Xn.
第6题
设随机变量X服从指数分布,其概率密度为,其中θ>0是常数,求E(X),D(X)。
第8题
设某种产品的寿命X服从指数分布,其概率密度为
其中λ未知。现抽得n个这样的产品,测得其寿命数据为X1,X2,...,Xn。试分别求产品平均寿命1/λ,产品失效率λ及产品可靠度P(T>t)=e-λt的矩估计。
第9题
第10题
设某种电子元器件的寿命(以小时计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为
其中c、θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验,设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn,求:(1)求θ与c的最大似然估计;(2)求θ与c的矩估计.
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