题目
A.按照控制图判异准则,过程失控,参数优化失败
B.过程均值发生了显著变化
C.过程方差显著增大,需要重新计算控制限
D.过程方差显著减少,需要重新计算控制限
第1题
A.如果每次抽取2-6个晶体坯,最好用均值-极差控制图
B.如果每次抽取7个以上的晶体坯,最好用均值-极差控制图
C.如果每次抽取7个以上的晶体坯,最好用均值-标准差控制图
D.如果抽样间隔期不变,采用单值-移动极差控制图的检出力(功效)最低
第2题
A.如果每次取2~7个晶体坯,最好用均值一极差控制图
B.如果每次抽取7个以上的晶体坯,最好用均值一极差控制图
C.如果每次抽取7个以上的晶体坯,最好用均值一标准差控制图
D.如果抽样间隔期不变,采用单值一移动极差控制图的检出力(功效)最低
第3题
A.按照控制图判异准则,过程失控,参数优化失败
B.B过程均值发生了显著变化
C.过程方差显著增大,需要重新计算控制限
D.过程方差显著减小,需要重新计算控制限
第4题
某厂加工连接轴,为控制其直径,应采用()。
A.不合格品率p控制图
B.均值一极差控制图
C.不合格数c控制图
D.不合格品数np控制图
第6题
属于泊松分布的控制图为()。
A.均值--极差控制图
B.中位数--极差控制图
C.不合格品率控制图
D.不合格数控制图
第8题
属于泊松分布的控制图为()。
A.均值一极差控制图
B.中位数一极差控制图
C.不合格品率控制图
D.不合格数控制图
第10题
A.均值—极差控制图
B.p控制图
C.单值—移动极差控制图
D.“均值一极差控制图”或“单值一移动极差控制图”
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