题目
A.过程能力指数的数值越大越好。
B.过程特性值的标准差越小越好。
C.过程不合格品率与过程能力指数一一对应。
D.过程能力指数的数值越小,过程能力越高。
E.过程特性值的标准差越大,过程能力越高。
第1题
A.Cpk<1表明过程能力充分
B.Cpk=1 表明过程能力充分
C.Cpk=0 表明过程能力严重不足,过程的不合格品率高达50%
D.Cpk>1.33表明过程能力充分
第4题
A.Cpk是过程能力指数,它应用于所有的数据类型
B.当发现过程能力不足时,应采取措施
C.过程能力指数Cp与过程的规格界限有关
D.控制图的目的是测量过程能力
第5题
A.Cpk是过程能力指数,它应用于所有的数据类型
B.当发现过程能力不足时,应采取措施
C.过程能力指数Cp与过程的规格界限有关
D.控制图的目的是测量过程能力
第6题
A.由朱兰博士提出的
B.衡量过程能力的相对大小
C.公差范围与过程质量特征值的波动范围之比定义为过程能力指数
D.假设条件为质量特征值服从均匀分布
第7题
A.标准差越小,均数对各变量值的代表性越好
B.标准差越小,均数对各变量值的代表性越好
C.均数越大,标准差越小
D.均数越大,标准差越大
E.标准差越大,均数对各变量值的代表性越好
F.标准差越小,均数对各变量值的代表性越差
第8题
A.辐射电阻越大的天线,辐射能力越强。
B.辐射功率越大,则辐射电阻也越大。
C.辐射的半功率波瓣宽度越小,天线方向性越好。
D.天线的方向性系数越大,天线方向性越好。
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