测量系统应处于统计受控状态，意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由普通原因造成，而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的（），并且可以通过控制图 法最佳地进行评价

A.可预测

B.稳定

C.不变

D.不稳定

A.过程受控意味着过程产出的产品就能满足技术要求

B.特殊因素不是过程固有的，时而出现时而不出现，一旦出现，过程输出结果会受影响，使过程失控，因此特殊因素又称异常因素

C.普通因素是过程固有的，很难去除，对质量的影响较小

D.处于统计控制状态时，是指过程不存在特殊因素

A．遗漏了关键因子

B．因子水平设置不合理

C．测量系统能力不够

D．过程处于非受控状态

A.使用控制图监控数据，可识别是否处于统计控制状态

B.出现正常因素（偶因）过程会处于受控状态

C.异常因素造成能及时发现，分析原因并采取措施改正

A.过程一定处于统计受控状态

B.过程一定没有特殊原因

C.过程可能有特殊原因

D.以上都对