题目
A.光子曲线
B.updata
C.热靶信息
D.黑体数据
第1题
A.A.上行固定使用DFT-S-OFDM波形
B.B.下行固定使用CP-OFDM波形
C.C.上行UE在距离基站远点使用DFT-S-OFDM波形
D.D.上行UE在距离基站近点使用CP-OFDM波形
第2题
A.A.当上行SINR低于门限值时,基站指示终端使用DFT-S-OFDM波形
B.B.当上行SINR低于门限值且RANK=1时,基站指示终端使用DFT-S-OFDM波形
C.C.当算法未开启时,基站默认指示终端用CP-OFDM波形
D.D.当上行SINR高于门限时,基站指示终端使用CP-OFDM波形
第3题
A.由于频率资源不足导致频率复用度过高而出现严重的网内上行干扰会致使上行质差
B.直放站及分布系统造成的网内上行干扰会致使上行质差
C.CDMA基站、私装直放站等网外干扰落到上行频带,会致使上行质差
D.器件质量导致出现上行干扰从而影响上行质差
E.有源设备输出功率过强导致上行干扰从而影响上行质差
第7题
A.初始接入
B.RRC连接重建
C.上行失步下行数据到达
D.上行失步上行数据到达
第8题
A.64TR 40%上行占比>64TR 20%上行占比>16TR 20%上行占比
B.64TR 20%上行占比>64TR 40%上行占比>16TR 20%上行占比
C.16TR 20%上行占比>64TR 40%上行占比>64TR 20%上行占比
D.16TR 20%上行占比>64TR 20%上行占比>64TR 40%上行占比
第9题
A.asonshared/teststub
B.asonshared/teststub/node
C.asonshared
D.asonshared/teststub/log
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