题目
A.探测程序
B.探测物的质量
C.探测物的金属种类
D.探测场的方向
第4题
A.电磁感应
B.红外探测
C.X射线投射
D.声波探测
第9题
A . 外差探测基于两束光波在探测器光敏面上的相干效应。
B . 外差探测适宜弱光信号的探测,直接探测适宜强光信号的探测。
C . 与外差探测相比直接探测具有良好的滤波性能。
D . 外差探测具有高的转换增益。
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