变压器套管试验抽头工频下测得的介质损耗因数（tanδ）小于（）。

A.10kV介质损耗因数tanδ测量

B.温升试验

C.电容量测量

D.绝缘电阻测量

A.环境温度下介质损耗因数tanδ及电容量测量

B.需电冲击干耐受电压试验

C.局部放电量测量

D.热稳定性试验

A.尺寸检验

B.10kV介质损耗因数tanδ测量

C.电容量测量

D.绝缘电阻测量

A.测得电容和损耗因数均偏小

B.测得电容偏小，损耗因数均偏大

C.测得电容偏大，损耗因数均偏小

D.测得电容和损耗因数均偏大

A.测得电容和损耗因数均偏小

B.测得电容偏小，损耗因数均偏大

C.测得电容偏大，损耗因数均偏小

D.测得电容和损耗因数均偏大

A.测量绕组连同套管的直流电阻

B.所有分接的电压比

C.绕组连同套管的绝缘电阻

D.绕组连同套管的介质损耗因数(tanδ)

A.0.004

B.0.005

C.0.006

D.0.007

A.测量绕组连同套管的介质损耗因数

B.测量绕组连同套管的电容量

C.测量绕组连同套管的直流泄漏电流

D.故障试验

A.直流泄漏

B.回路直流电阻

C.超声探伤

D.介质损耗因数(tanδ)和电容值