某电子元器件厂对产品生产过程采用Xbar－R控制图进行过程控制。每1个小时在生产现场抽取样本大小为5的子组，控制图显示受控，但是在所抽样的30组产品中发现总计居然有10个产品落入公差限外，针对这一现象，可能正确的判断是：（）

A.Xbar-R不好，应采用Xbar-S控制图

B.该过程能力不足（Cp，Cpk低）

C.抽样间隔过长，应该改为半小时抽样一次

D.应先对该过程进行优化和改造，然后再进行控制

A.AQL

B.LQ

C.过程平均

D.批质量

A.采用二进制

B.采用高速的电子元器件

C.采用大规模超大规模集成电路

D.程序存储和程序控制

A.P图

B.S图

C.C图

D.u图

A P 图

B X- -R图

C X` -R图

D u 图

A.AQL等于0.1(%)

B.LQ等于0.1(%)

C.AOQL等于0.1(%)

D.AOQ等于0.1(%)

A.特军品

B.厂用级

C.普军品

D.民用品

E.家用级

已知某种电子元器件的使用寿命服从正态分布N(350，142)，工程师怀疑生产过程的变化可能导致寿命的分布参数发生了变化。现从一批成品中随机抽取并测量了20个用来考核整批产品的质量，用计算机软件得到下列结果，以下理解正确的是：()。

A.寿命的均值和标准差都发生了显著变化

B.寿命的均值和标准差均未发生显著变化

C.寿命的均值未显著变化，但标准差发生了显著变化

D.寿命的标准差未显著变化，但均值发生了显著变化

A.1

B.10

C.18

D.20