下列关于根分叉病变的描述哪项不正确A.I度：可探及分叉外形，x线片上分叉区骨无异常表现B.Ⅱ度：一侧

关于根分叉病变的分度，哪项描述不正确

A、1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现

B、2度：只有一侧可探入分叉区，X线片示：骨密度略降低

C、2度：只有一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低

D、3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区

E、4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区

关于根分叉病变的描述不正确的是

A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查

B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入

C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度

D、X线片的表现常比实际病变轻

E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

关于根分叉病变的描述不正确的是

A、可用普通的弯探针探查

B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区

C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区

D、X线片的表现常比实际病变轻

E、发生根分叉病变的患牙是松动牙

A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查

B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入

C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度

D.X线片的表现常比实际病变轻

E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

下列有关根分叉病变分度的描述中，哪一项不正确

A．Ⅰ度：可探及根分叉外形，X线片示无异常表现

B．Ⅱ度：只有一侧可探入根分叉区，X线片示骨密度略降低

C．Ⅱ度：一侧或双侧可探入根分叉区，但不能穿通，X线片示骨密度略降低

D．Ⅲ度：探针能通过根分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区

E．Ⅳ度：探针能通过根分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区

A.上颌磨牙近远中邻面根分叉探查均从颊侧进入

B.X线片的表现常比实际病变重

C.上颌磨牙邻面根分叉的Ⅱ度和Ⅲ度病变很容易区分

D.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

E.发生根分叉病变的患牙早期松动可不明显

Ⅲ度根分叉病变，最不需做下列哪项治疗

A.袋壁切除术

B.牙龈切除术

C.刮治术

D.截根术

E.牙周翻瓣术

关于牙周探诊，叙述不正确的是

A.使用Nabers探针检查根分叉病变

B.探诊时用改良握笔式握持探针

C.探诊力量为30～35g

D.牙周探针应与牙体长轴平行

E.探针的粗细及形状影响探诊的准确性

下列关于乳牙外形特征的描述，不正确的是

A.乳牙体积小，呈白垩色

B.乳牙颈嵴突出，冠根分明

C.第一乳磨牙体积最大，第二乳磨牙次之

D.乳磨牙根短，分叉大

E.上颌乳尖牙的牙尖偏向远中

A.1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现

B.2度：只有一侧可探入分叉区，X线片示：骨密度略降低

C.2度：一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低

D.3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区

E.4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区