题目
R4s规则指的是
A、同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值+2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差
B、一个质控结果超过均值±3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C、两个连续质控结果同时超过均值+2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D、一个质控品连续的4次测定结果都超过均值+1s或均值-1s,或两个质控品连续两次测定都超过均值+1s或均值-1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E、十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差
第1题
A.同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值 2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差
B.一个质控结果超过均值?3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C.两个连续质控结果同时超过均值 2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D.一个质控品连续的四次测定结果都超过均值 1s或均值一1s,或两个质控品连续两次测定都超过均值 1s或均值一1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E.十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差
第2题
A.同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过均值+2s,另一质控结果超过均值-2s,表示存在随机误差
B.一个质控结果超过均值±3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C.两个连续质控结果同时超过均值+2s或均值-2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D.一个质控品连续的四次测定结果都超过均值+ls或均值-ls,或两个质控品连续两次测定都超过均值+1s或均值-ls,为违背此规则,表示存在系统误差
E.十个连续的质控结果在平均数一测,为违背此规则,表示存在系统误差
第3题
下列关于常用质控规则的说法中正确的是
A、41S:一个质控品连续4次测定结果都超过x+1s或x-1s,再加上2个质控品连续两次测定都超过x+1s或x-1s,为违背此规则,表示存在随机误差
B、12s:一个质控结果超过x±2s,如违背此规则,提示失控
C、R4s:同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过x+2s,另一质控结果超过x-2s,表示存在系统误差
D、22s:两个连续质控结果同时超过x+2s或x-2s,为违背此规则,表示存在随机误差
E、10x:十个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
第4题
Westgard多规则中哪一项表示同批质控结果一个超过X+2SD,另一个超过X-2SD
A、13s
B、R4s
C、12s
D、41s
E、22s
第5题
A.同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s,表示存在随机误差
B.一个质控结果超过±3S,为违背此规则,提示存在随机误差
C.两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D.一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E.10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
第6题
A.同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过-2s
B.一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C.两个连续质控结果同时超过+2s或-2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D.一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E.10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
第8题
关于R4S质控规则,下列说法错误的是
A、通常指一个质控结果超过均值+2s,另一个质控结果超过均值-2s
B、对随机误差敏感
C、既可用于批内,也可用于批间
D、只能用于批内
E、可应用于不同的质控品
第9题
关于Westgard多规则质控图,叙述错误的是
A、Westgard多规则质控图是将多规则质控方案同Levey-Jennings质控图结合起来
B、多规则质控方法的使用类似于Levey-Jennings质控图的使用,但是质控结果的解释更具有结构化
C、Westgard质控图中以不同的颜色表示不同的控制限水平
D、多规则质控方法的使用使假失控率增高,误差检出率增高,更易检出随机误差和系统误差,因此,临床应用日趋广泛
E、常用的多规则质控方法包括12s、13s、22s、R4s、10等
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