题目
A.当P=q时,图形是对称的
B.二项分布是连续分布
C.当p≠q,时图形呈偏态
D.二项分布的极限分布为正态分布
第1题
A.当样本量很大(n>100),p不大不小(0.1<p<0.9)时,二项分布可以作为正态分布的近似分布
B.当样本量很大(n>100),p很小(p<0.05,np<30)时,二项分布可以作为泊松分布的近似分布
C.当样本容量小于批量的10%时,二项分布可以作为超几何分布的近似分布
D.二项分布是连续生产中不合格品数的精确分布
第2题
A.当样本量很大(n>100),p不大不小(0.1近似分布;
B.当样本量很大(n>100), p很小(p<0.05,np<30)时,二项分布可以作为泊松分布的近似分布;
C.当样本容量小于批量的10%时,二项分布可以作为超几何分布的近似分布
D.二项分布是连续生产中不合格品数的精确分布
第3题
A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图
B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C.P图中的各个子组大小可以不相等
D.P图的统计基础是二项分布
E.P图的统计基础是泊松分布
第4题
A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图
B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C.P图中的各个子组大小可以不相等
D.P图的统计基础是二项分布
E.P图的统计基础是泊松分布
第5题
A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图
B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C.P图中的各个子组大小可以不相等
D.P图的统计基础是二项分布
E.P图的统计基础是泊松分布
第6题
A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图
B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C.P图中的各个子组大小可以不相等
D.P图的统计基础是二项分布
E.P图的统计基础是泊松分布
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