用均值和极差图来进行测量系统稳定性的分析，已知子组容量为5，共收集25组数据，测量数据的均值为10，子组极差的均值为5，请计算均值极差图的控制限（A2=0.577，D4=2.114，D3=0）,正确的是（）

A.均值极差图

B.P图

C.鱼骨图

D.直方图

A．如果每次取2~7个晶体坯，最好用均值一极差控制图

B．如果每次抽取7个以上的晶体坯，最好用均值一极差控制图

C．如果每次抽取7个以上的晶体坯，最好用均值一标准差控制图

D．如果抽样间隔期不变，采用单值一移动极差控制图的检出力（功效）最低

A.平均值极差

B.P

C.单值移动极差

D.U

A．均值极差控制图

B．均值标准差控制图

C．单值移动极差控制图

D．c图

E．p图

A．如果每次抽取２－6个晶体坯，最好用均值－极差控制图

B．如果每次抽取7个以上的晶体坯，最好用均值－极差控制图

C．如果每次抽取7个以上的晶体坯，最好用均值－标准差控制图

D．如果抽样间隔期不变，采用单值－移动极差控制图的检出力（功效）最低

A.np图和P图

B.单值一移动极差图

C.均值一极差图

D.c图和μ图

E.排列图

A.如果每次抽取2-4个晶体坯，最好用均值-极差控制图

B.如果每次抽取7个以上的晶体坯，最好用均值-极差控制图

C.如果每次抽取7个以上的晶体坯，最好用均值-标准差控制图

D.如果抽样间隔期不变，采用单值-移动极差控制图的检出力(功效)最低

A.不合格品数控制图

B.不合格数控制图

C.单值—移动极差图

D.均值—极差控制图

A.变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPC

B.其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差(I-MR)控制图即可

C.求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差(X-MR)控制图外,再绘制各小时的极差(R)控制图，三张控制图同时使用即可控制过程

D.解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图

A.变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPC;

B.其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差(X一MR)控制图即可;

C.求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差(X一八妞)控制图外，再绘制各小时的极差(R)控制图，三张控制图同时使用即可控制过程;

D.解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图;

A.变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用 SPC

B.其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差（X一 MR）控制图即可

C.求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差（X 一八妞）控制图外，再绘制各小时的极差（R）控制图，三张控制图同时使用即可控制过程

D.解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图