关于不合格品率（percent defective）控制图的说法，正确的有（）

A.可能没有不合格品

B.必有5件不合格品

C.最多有5件不合格品

D.至少有1件不合格品

A.过程能力指数越低，不合格品率越高

B.过程能力指数越低，不合格品率越低

C.过程能力指数越高，合格品率越低

D.过程能力指数越高，合格品率越高

E.过程能力指数与产品质量无关

A.子组大小可以不相等

B.子组大小相等时控制限为凹凸状，无法判异

C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化

D.用于分析过程不合格品率的波动

E.理论基础是指数分布

关于建立p图的情况，下列说法不正确的是()。

A．

B．

C．

D．p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p，且各个产品的生产是独立的

A.降低抽样方案中的AQL值，意味着过程能力的提高。

B.AQL在10%以下时，只能表示不合格品率，在10%以上时，只表示每百单位缺陷数。

C.AQL是生产方和接收方共同认为满意的不合格品率(或每百单位的缺陷数)的上限

D.加严和放宽的抽样方案。

A.AQL被用来作为一个检验工具

B.AQL是可以接收和不可以接收的过程平均之间的界限值

C.AQL不应与实际的过程质量相混淆

D.AQL用不合格品百分数或每百单位产品不合格数表示

E.是允许的生产过程平均(不合格品率)的最大值

A.它是最基本的抽检方案

B.标准型抽检方案，可同时控制生产方与使用方的风险

C.要求提供检验批制造过程的平均不合格品率

D.适合于对孤立批的检验

A.产成率=成品重量/鸡只重量

B.产成率主要受原料失水和生产过程中的控制两个要素影响

C.原料的失水会受到温度和解冻的控制影响

D.生产过程中，裹浆裹粉率和不合格品的控制会影响产成率

A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图

B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图

C.P图中的各个子组大小可以不相等

D.P图的统计基础是二项分布

E.P图的统计基础是泊松分布