题目
A.在任何情况下都是正确的
B.仅适用于纵波探伤
C.仅适用于横波探伤
D.某些情况下不适用,例如对IIW试块的R100曲面就是
第1题
A、在任何情况下是正确的
B、仅适用于纵波探伤
C、仅适用于横波探伤
D、某些情况下不适用,例如对IIW试块的R100曲面就不如此
第2题
A.缺陷回波
B.固有信号
C.假象信号
D.杂乱信号
第3题
A.形状复杂工件
B.表面粗糙工件
C.内部平面型的缺陷
第4题
第5题
A.红外探测技术
B.超声波探伤技术
C.色谱分析技术
D.磁粉探伤技术
第6题
A.缺陷回波幅度降低
B.始脉冲变宽
C.分辨率降低
D.A与B
第7题
第8题
超声波探伤,检验近表面缺陷,最有效的探头形式应是()探头。
第9题
第10题
A.磁粉探伤
B.超声波探伤
C.光谱探伤
D.渗透探伤
E.涡流探伤
第11题
A.射线
B.磁粉
C.渗透
D.超声波
1. 搜题次数扣减规则:
备注:网站、APP、小程序均支持文字搜题、查看答案;语音搜题、单题拍照识别、整页拍照识别仅APP、小程序支持。
2. 使用语音搜索、拍照搜索等AI功能需安装APP(或打开微信小程序)。
3. 搜题卡过期将作废,不支持退款,请在有效期内使用完毕。
为了保护您的账号安全,请在“赏学吧”公众号进行验证,点击“官网服务”-“账号验证”后输入验证码“”完成验证,验证成功后方可继续查看答案!